优化 N 端口测量：多端口 VNA 与开关矩阵
许多工程师依靠外部开关矩阵来扩展 2 端口 VNA 以进行多通道测量，但这种方法需要在速度、精度和系统复杂性方面进行权衡。随着射频和高速数字系统不断扩展，了解这些权衡何时发挥作用至关重要。
这个时长 60 分钟的网络研讨会对交换 2 端口和真正的多端口 VNA 测量架构进行了清晰、实用的比较。与会者将了解不同方法之间的扫描计数、插入损耗、隔离和校准复杂性有何不同，以及这些差异如何影响实际结果。通过检查代表性用例（包括电缆组件、波束成形阵列和多通道设备的生产测试），该会议将帮助工程师和测试团队为其测量目标选择最合适的策略。
关键主题包括：
- 交换 2 端口系统的局限性
- 如何执行真正的 N 端口测量
- 针对大量端口的校准策略
- 工程和生产测试影响
技术演示之后将举行观众问答环节。
演讲者：
Brian Walker，Copper Mountain Technologies 高级射频工程师
Brian Walker 是 Copper Mountain Technologies 的 SME 高级 RF 工程师。他帮助客户解决技术问题并为测试和测量中的 VNA 应用开发新的解决方案。 Brian 拥有 40 年的射频设计经验。他此前曾担任 Bird Electronics 的 RF 设计经理，领导 RF 设计师团队并创造了新的创新产品。在此之前，他曾在摩托罗拉元件产品部工作，负责通信设备陶瓷梳状线滤波器的设计。 Brian 拥有新墨西哥大学学位，是 IEEE 高级会员，拥有三项美国专利。
主持人：
Amanda Hosey，SAE 媒体集团编辑
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