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优化N端口测量:多端口VNA与开关矩阵对比

许多工程师依赖外部开关矩阵扩展2端口VNA进行多通道测量——但这种方法在速度、精度和系统复杂性上存在权衡。随着射频和高速数字系统持续扩展,理解何时这些权衡至关重要。

本场60分钟网络研讨会将在切换式2端口与真正多端口VNA测量架构间提供清晰实用的对比。与会者将了解扫描次数、插入损耗、隔离度和校准复杂性在两种方法间的差异,以及这些差异如何影响实际结果。通过考察代表性用例——包括线缆组件、波束成形阵列和多通道器件生产测试——帮助工程师和测试团队为其测量目标选择最合适策略。

核心议题

技术演示后将进行观众问答环节。

演讲者

Brian Walker,Copper Mountain Technologies高级射频工程师

Brian Walker是Copper Mountain Technologies高级射频工程师、主题专家。他帮助客户解决技术问题,为测试测量中的VNA应用开发新解决方案。Brian拥有40年射频设计经验。曾任Bird Electronics射频设计经理,领导射频设计师团队创造创新产品。此前在Motorola组件产品集团负责通信设备陶瓷梳状滤波器设计。拥有新墨西哥大学学位,IEEE高级会员,拥有三项美国专利。

主持人

Amanda Hosey,SAE Media Group编辑

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