光致发射分析以识别表面污染物
NASA Langley 开发了一种仪器来测量弯曲或不规则形状表面上的低水平污染。该仪器提供独特的功能,例如识别和量化污染以及同时分析多个表面的能力。该信息提供了对在轻型飞机等应用中更可靠的粘合剂粘合所需的表面清洁度的分析。
该仪器将紫外线 (UV) 辐射引导到表面上,产生小电流。仪器测量该电流在很短的时间间隔内发生变化。通过对电流的分析,可以确定表面的污染程度和污染物种类的识别。
NASA 正在积极寻求被许可方将这项技术商业化。请通过以下方式联系 NASA 的许可礼宾部 此电子邮件地址已受到垃圾邮件机器人的保护。您需要启用 JavaScript 才能查看它。或致电 202-358-7432 与我们联系以发起许可讨论。在此处点击此链接 了解更多信息。
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