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NASA推进闪光热成像:瞬态与锁相技术实现更快更深无损检测

NASA约翰逊研究中心研究人员将瞬态热成像和锁相热成像引入闪光热成像无损检测(NDE)技术。该NDE技术识别飞机、无人机、建筑用材料缺陷。

引入瞬态热成像法——比其他方法更快探测厚件缺陷,和锁相热成像法——用正弦功率循环提供更好缺陷分辨率,闪光热成像NDE技术套件扩展适用于其他常用红外热成像技术。

用瞬态和锁相法评估材料时,材料热扩散率变化在测试表面红外(IR)图像中表现为异常。两法专门用于分析单用闪光热成像无法达标的更厚材料。原始IR相机数据后处理提供异常尺寸表征详细分析。

该技术含软件,提供高精度测量。

峰值对比度和峰值对比度时间剖面提供图像定量解读,含异常尺寸形状详细信息。持久能量和持久时间剖面为探测异常提供高灵敏度数据。峰值对比度、峰值时间、持久时间、持久能量测量也能监测缺陷增长和信号响应缺陷尺寸分析。

此技术比现有方法提供更全面、详细、准确的非金属复合材料亚表面缺陷NDE探测表征。完整软件套件归一化校准数据,提供更稳定测量,减少操作员和相机变异导致的误差。

NASA正积极寻找被许可方商业化此技术。请联系NASA许可礼宾部:邮箱需启用JavaScript查看,或致电202-358-7432启动许可讨论。点击此处 了解更多信息。

传感器

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