自动评估 X 射线探测器性能
Nikon Metrology 新推出的符合 ASTM E2737 的检测器评估包独特地提供了图像数据的自动分析和性能趋势分析。
整个制造业的安全标准变得越来越严格，特别是在航空航天和汽车行业。使用 X 射线 CT（计算机断层扫描）对这些行业和其他行业的安全关键部件进行无损检测的公司越来越需要，或者可能只是希望尽一切努力证明其检测结果的准确性。
特别是数字 X 射线探测器的状况对揭示和测量特征的效率和准确性有相当大的影响，因此能够随着时间的推移评估和跟踪其性能至关重要。为了帮助 Nikon Metrology 的 X 射线 CT 系统用户在整个服务过程中检查其探测器性能，该公司推出了一种新的监控套件，该套件根据全球公认的标准 ASTM E2737 提供市场领先的功能和简单性。
新的 ASTM E2737 探测器评估包适用于 Nikon Metrology 的 X 射线 CT 检查、计量和大包络 CT 系统的整个范围。支持制造商的所有 X 射线源，包括旋转靶技术和全球唯一的 450kV 微聚焦源，以及全系列行业领先的探测器。
该包装随附一个预先校准的工件，称为 5 槽楔形体模和易于安装的定制支架，带有快速更换适配器，允许操作员将模型固定在正确的位置。
专用软件执行所有必要的功能，包括工件处理、图像收集和数据分析；自动快速创建详细报告。简化的工作流程减轻了操作员的人工干预，并使程序熟练到可以由对 ASTM E2737 或实际上是 X 射线 CT 知之甚少的操作员执行的程度。
获得了九个探测器参数的数据：空间分辨率、对比敏感度、材料厚度范围、信噪比、信号电平、图像老化、图像滞后、偏移值和不良像素分布。
与用户定义的基线和可定制的阈值和警告相比，可以在整个使用寿命期间跟踪检测器的长期性能和稳定性，并跟踪其一致性。每次进行一组测量时都会存储所有九项 ASTM E2737 测试的结果，以便随时查询。结果的图形和表格表示有助于可视化。
从图像采集到最终报告创建的自动化工作流程以及强大的趋势分析功能，使尼康计量 ASTM E2737 独一无二。
作为工业 4.0 计划的一部分，能够根据国际标准以简单的方式跟踪探测器的性能，这对于依赖计算机断层扫描来控制其产品质量并优化其生产过程的公司来说尤其有利。
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