逐次逼近 ADC:更快、更精确的数模转换方法
解决数字斜坡 ADC 局限的有效方案是逐次逼近 ADC。核心创新在于一种专用计数器——逐次逼近寄存器(SAR)。
SAR 不从零递增遍历二进制序列,而是从最高有效位(MSB)到最低有效位(LSB)依次设定每一位。过程中持续监测比较器输出,调整各位使 DAC 输出尽快收敛于模拟输入。
可类比十进制转二进制的试错法:从 MSB 到 LSB 测试各位值,直到二进制数匹配输入。因 SAR 步进更大且确定,转换在远少于简单 0 到满量程计数的迭代中完成,显著提升速度和效率。
下图为典型 SAR 型 ADC 原理图。注意 SAR 可串行输出二进制结果——逐位输出——因此无需额外移位寄存器。

时域绘图显示逐次逼近 ADC 更新规律、可预测,不似数字斜坡 ADC 间隔不规则。

相关工作表:
- 逐次逼近 ADC 工作表
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