晶体管 (JFET) 的电表检查
用万用表测试 JFET 似乎是一项相对容易的任务，因为它只有一个 PN 结要测试：要么在栅极和源极之间测量，要么在栅极和漏极之间测量。
测试 N 沟道 JFET 的连续性
不过，通过漏源通道测试连续性是另一回事。还记得上一节中存储在栅极-沟道 PN 结电容上的电荷如何在不施加任何外部电压的情况下将 JFET 保持在夹断状态吗？即使您手持 JFET 进行测试，也可能发生这种情况！因此，通过该通道的任何连续性仪表读数都是不可预测的，因为您不一定知道栅极-通道结是否存储了电荷。当然，如果您事先知道器件上的哪些端子是栅极、源极和漏极，则可以在栅极和源极之间连接跨接导线以消除任何存储的电荷，然后继续测试源极 - 漏极连续性没有问题。但是，如果您不知道哪些终端是哪些，源漏连接的不可预测性可能会混淆您对终端身份的确定。
测试 JFET 的策略
测试 JFET 时要遵循的一个好策略是在测试之前将晶体管的引脚插入抗静电泡沫（用于运输和存储静电敏感电子元件的材料）。插入时，泡沫的导电性将在晶体管的所有端子之间形成电阻连接。这种连接将确保在栅极-沟道 PN 结上建立的所有残余电压都将被中和，从而“打开”沟道以进行准确的源-漏连续性仪表测试。
由于 JFET 通道是一块不间断的半导体材料，因此源极和漏极端子之间通常没有区别。从源极到漏极的电阻检查应与从漏极到源极的检查产生相同的值。当栅源 PN 结电压为零时，该电阻应相对较低（最多几百欧姆）。通过在栅极和源极之间施加反向偏置电压，可以通过增加仪表上的电阻读数来明显看出通道的夹断。
相关工作表：
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结型场效应晶体管 (JFET) 工作表
工业技术