横向电子聚焦中自旋分裂峰的温度依赖性
摘要
我们展示了使用 n 型 GaAs 进行的横向电子聚焦测量的实验结果。在存在小的横向磁场 (B⊥) 的情况下,电子从注射器聚焦到检测器,导致在 B⊥ 中周期性地出现聚焦峰。我们表明奇数聚焦峰表现出分裂,其中每个子峰代表从注入器发出的特定自旋分支的群体。温度依赖性表明,在低温下峰分裂是明确定义的,而在高温下它被抹去,表明在低温下喷射器中的交换驱动自旋极化占主导地位。
背景
通过使用在 GaAs/AlGaAs 异质结构界面处形成的二维电子气 (2DEG) 实现的准一维 (1D) 系统的电子传输已得到广泛研究。一维系统提供了一个出色的平台,不仅可以设想非相互作用的量子力学系统,其中电导量化 [1-3] 的单位为 \(n\times \frac {2e^{2}}{h}\ ),其中 n =1,2,3... 是不同的一维能量子沙,也是探索多体物理的场所 [4-9]。最近,由于预测和实验证明低密度一维系统中的富相导致早期 Wigner 结晶,多体一维系统的物理学进展获得了动力 [6, 7, 10]。此外,多体一维系统框架中 0.7 电导异常的起源仍存在争议[11-15]。 0.7 异常有两个主要特征:第一,在面内磁场的存在下,0.7 异常演化为\(0.5\times \frac {2e^{2}}{h}\) 平台,表明它与自旋有关 [4];其次,发现 0.7 异常随着温度的降低(升高)而减弱(加强)[4]。这些非凡的观察导致了大量的理论和实验尝试来探索与 0.7 异常相关的内在自旋极化;然而,对于这种异常的起源并没有达成共识[11-15]。因此,为了进一步了解 0.7 异常,必须对一维通道内的自旋极化进行直接测量。
提出了一种基于横向电子聚焦 (TEF) 的方案来解决自旋极化 [16, 17],并在 p 型 GaAs [18, 19] 和 n 型 InSb [20] 中得到验证。在该方案中,可以从第一聚焦峰的两个子峰的不对称性中提取由交换相互作用引起的自旋极化。最近,我们表明可以以第一个聚焦峰中分裂的形式检测到自旋已在空间上分离的一维电子的注入,其中两个子峰代表检测到的自旋态的总体[21]。在目前的工作中,我们报告了自旋分裂第一聚焦峰的温度依赖性,并基于两种自旋物种之间存在的自旋间隙分析了结果。
方法
本工作中研究的器件是由在 GaAs/Al 0.33 Ga 界面处形成的高迁移率二维电子气 (2DEG) 制成的 0.67As 异质结构。在 1.5 K 时,测得的电子密度(迁移率)为 1.80×10
11
厘米
−2
(2.17×10
6
厘米
2
V
−1
s
−1
) 因此,平均自由程超过 10 μ m 远大于电子传播长度。使用标准锁定技术在晶格温度为 20 mK 的无冷冻稀释冰箱中进行实验。温度依赖性测量范围为20 mK至1.8 K。
结果与讨论
图 1a 显示了实验设置以及使用插图中显示的设备获得的典型聚焦光谱。聚焦装置是专门设计的,因此可以单独控制注射器和检测器,以避免它们之间可能发生的串扰 [21-23]。用于注入器和检测器的量子线具有 500 nm 的宽度(限制方向)和 800 nm 的长度(电流流动方向)。进样器和检测器都显示出明确定义的电导平台,如图 1b 所示。图 1 的标题中给出了有关该设备的更多详细信息。
<图片> 结论
总之,我们展示了横向电子聚焦的温度依赖性,其中两个自旋态的贡献表现为第一个聚焦峰中的两个子峰。观察到峰分裂在 20 mK 到 1.2 K 范围内被很好地定义,超过这个温度,峰分裂被抹去。此外,在较高温度下,聚焦峰有变得更加对称的趋势,表明由于热激发,两个自旋分支之间可能达到平衡。
这项工作由英国工程和物理科学研究委员会 (EPSRC) 资助。