多层 MoTe₂ 晶体管中可调控的 P 型至 N 型转换及其在互补反相器中的应用
摘要
P 型和 N 型 MoTe₂ 晶体管对于构建互补电子与光电电路至关重要。本工作制备了基于 Au 电极的空气稳定 P 型多层 MoTe₂ 晶体管,并通过真空退火将其转化为 N 型器件。原位温度相关测量结合第一性原理模拟揭示:本征 N 型行为源于碲空位,而环境空气中的氧/水氧化还原对通过电荷转移诱导 P 型掺杂。利用 P 型和 N 型 MoTe₂ 通道组装的互补反相器在 V_DD = 5 V 下实现了高达 9 的电压增益。
研究背景
二维(2D)材料如石墨烯可剥离成原子级薄层,为探索 2D 物理及器件应用开辟新途径。过渡金属二硫属化物(TMDs)具有可观的带隙、力学柔性和化学惰性,适合新一代场效应晶体管(FET)、反相器、发光二极管及范德瓦尔斯异质结构。
2H-二碲化钼(2H-MoTe₂)是典型 TMD,体材料间接带隙 0.83 eV,单层直接带隙 1.1 eV。它在自旋电子学、FET、光电探测器和太阳能电池等领域受到关注。因多层 2H-MoTe₂ 具有大比表面积,其电子性质极易受环境吸附物影响,增加了提取本征输运特性的难度。
本研究采用背栅结构制备多层 2H-MoTe₂ 晶体管,将机械剥离得到的洁净 MoTe₂ 薄片转移桥接源漏电极。整个器件暴露于空气中,系统研究环境物种对电荷输运的影响。真空与温度相关测量表明器件本征为 N 型,空气暴露导致 P 型掺杂。密度泛函理论(DFT)计算将 N 型行为归因于碲空位。通过在 P/N 型间转换,我们组装了表现出对称输入输出特性和最大增益 9(V_DD = 5 V)的互补反相器。
结果与讨论
不同于前人报道,我们的器件布局(图 1a)采用背栅结构。先在 SiO₂/Si⁺ 基底上光刻制备 Cr/Au 源漏电极,再将另一 SiO₂/Si⁺ 晶圆上机械剥离的多层 MoTe₂ 薄片转移至电极间,确保无聚合物残留的洁净通道(图 1b)。因整个薄片暴露于空气,可系统研究吸附物对本征电导的影响。
AFM 确认厚度 17 nm(约 24 单层)(图 1c,d),拉曼光谱显示特征 A₁g(172 cm⁻¹)、E¹₂g(233 cm⁻¹)和 B¹₂g(289 cm⁻¹)模式,表明晶体质量优良(图 1e)。
背栅测量在 Lakeshore 探针台配合 Agilent B1500A 分析仪进行,压力低至 10⁻⁵ mbar,温度 9–350 K。室温空气中传输曲线(V_sd = 1 V,图 2a)呈 P 型响应:负栅压导通、正栅压截止,开关比 6×10³,亚阈值摆幅 350 mV dec⁻¹,场效应迁移率 8 cm² V⁻¹ s⁻¹。不同厚度(5–85 nm)器件均表现出类似 P 型行为(附件 S1–S3)。
输出特性(图 2b)显示近线性 I-V 曲线,暗示空气中 Au/MoTe₂ 接触肖特基势垒可忽略。导通电流随 V_sd 线性增加(图 2c),截止电流随 V_sd 上升导致开关比下降——这是吸附物诱导陷阱态的标志。传输曲线的滞后进一步证实陷阱存在(附件 S4)。
为分离环境物种作用,我们在逐渐增高的真空下测量器件。如图 3a 所示,增大真空度降低导通电流(吸附物脱附致电阻升高)并抬高截止电流,表明电子输运被逐步抑制。2.9×10⁻⁵ mbar 下的输出曲线(图 3b)显示肖特基势垒略大,支持吸附物调节有效势垒高度的结论。
温度相关测量(图 4a)显示器件在 20 K 仍保持 P 型。导通/截止电流随温度降低而减小,开关比改善。阿伦尼乌斯图(图 4c)揭示 100 K 以上为热激活机制、以下为隧穿主导,提取出 120 meV 以下的有效肖特基势垒高度(图 4d)。尽管低温减少吸附物,残留物种仍影响电导。
进一步在真空中将器件退火至 350 K(图 5a)。传输曲线从 P 型转为 N 型:350 K 时负栅压截止、正栅压导通,开关比 3.8×10²,亚阈值摆幅 1.1 V dec⁻¹,迁移率 2 cm² V⁻¹ s⁻¹。室温真空放置 12 h 后 N 型行为持续存在(图 6a)。523 K 氩气退火进一步确认 N 型态稳定性(附件 S5)。
4×4 单层超胞 DFT 计算显示,碲空位在导带底下方引入缺陷能级,解释了本征 N 型电导(图 7)。反之,环境 O₂/H₂O 导致电荷从 MoTe₂ 转移至氧/水氧化还原对(图 8),产生 P 型掺杂。MoTe₂ 功函数(4.1 eV)低于氧化还原对(>4.83 eV),驱动电子转移并在材料中产生空穴。
最后,利用 P 型和 N 型晶体管组装互补反相器(图 9a)。在 8×10⁻⁵ mbar 真空、V_DD = 5 V 下,反相器展现以 V_DD/2 为中心的对称电压传输特性(图 9d),低/高电平噪声容限分别为 1.54 V 和 1.77 V。电压增益随 V_DD 增大,在 5 V 时达到 9(图 9f)。结果表明 MoTe₂ 可作为高性能互补逻辑器件的有源通道材料。
结论
总之,我们制备了空气稳定的 P 型多层 MoTe₂ 晶体管,并通过真空退火揭示了其本征 N 型行为。N 型电导源于碲空位,经 DFT 验证。环境氧和水通过氧化还原对作为受主,将器件转为 P 型。两种器件在吸附物存在下均表现出降低的肖特基势垒,实现高性能。利用这种双型器件,我们构建了增益达 9 的互补反相器,展示了 MoTe₂ 在未来低功耗柔性电子学中的应用潜力。
实验方法
器件采用标准背栅几何结构。先在 300 nm SiO₂/p⁺-Si 晶圆上用紫外光刻制备 Cr/Au(5 nm/100 nm)源、漏、栅电极,随后选择性刻蚀 SiO₂。多层 MoTe₂ 薄片从化学气相传输法生长的体晶体(TeCl₄,750–700 °C,3 天)机械剥离至另一 SiO₂/Si⁺ 基底,再用 PVA 转移介质转移至图案化电极上,水溶解 PVA 后用异丙醇冲洗。器件在配备干泵的 CVD 腔室中退火。厚度经 AFM(SPA-300HV)验证,拉曼光谱用 LabRAM HR 光谱仪(514 nm 激光,2.2 mW)采集。电学表征用 Agilent B1500A 分析仪配合 Lakeshore 探针台。DFT 计算采用 VASP、PAW 赝势、400 eV 平面波截断、12×12×1 k 点采样(结构优化)和 24×24×1(电子结构),GGA-PBE 泛函。
缩略语
- 2D
- 二维
- 2H-MoTe₂
- 2H 型二碲化钼
- AFM
- 原子力显微镜
- DFT
- 密度泛函理论
- DOS
- 态密度
- FET
- 场效应晶体管
- GGA
- 广义梯度近似
- IPA
- 异丙醇
- I_sd
- 源漏电流
- LED
- 发光二极管
- NM_H
- 高电平噪声容限
- NM_L
- 低电平噪声容限
- PAW
- 投影增强波
- PBE
- Perdew-Burke-Ernzerhof
- PVA
- 聚乙烯醇
- SD
- 源漏
- SS
- 亚阈值摆幅
- TMDs
- 过渡金属二硫属化物
- VASP
- 维也纳从头计算模拟包
- V_bg
- 背栅电压
- V_sd
- 源漏电压
- VTC
- 电压传输特性
- Φ_SB
- 肖特基势垒高度
纳米材料