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利用硬币悖论自旋-轨道相互作用增强片上光隔离,实现卓越的磁光性能

摘要

设计一种简单的片上集成光隔离器,由金属-绝缘体-金属(MIM)波导和填充磁光材料的圆盘微腔组成,利用硬币悖论自旋-轨道相互作用(SOI)增强横向磁光效应。仿真显示该结构获得高性能光隔离器:最大隔离比>60 dB,对应插入损耗约2 dB。优异性能归因于硬币悖论SOI强化的横向磁光效应。此外,SOI增强效应在较小方位模式数n下更显著,使横向磁光效应在宽波长范围保持强劲;更小微腔在同一波长范围内表现出更强的横向磁光效应。研究为高集成磁光器件提供新视角。

引言

基于非互易传输的光隔离器是光通信和光信息处理的关键器件。为实现高集成,已开发多种方法:磁光效应、拓扑学、非线性效应、宇称-时间对称性破缺等。磁光效应仍是热点,但现有器件多为大尺寸,因磁光效应普遍较弱。表面等离子体极化子(SPP)可突破衍射极限,在集成光学潜力巨大,尤其是解决高损耗问题后。SPP具有横向自旋角动量(TSAM),可诱导类似纵向自旋角动量(LSAM)的磁光效应实现非互易传输。但基于SPP横向磁光效应的隔离器难以小型化,主要受限于磁光材料系数小及SPP横向自旋为椭圆而非圆偏。尽管已开发大磁光系数材料,椭圆横向自旋仍是瓶颈。硬币悖论展现独特SOI:圆周轨道导致自旋旋转额外一圈,或可作为调控SPP横向磁光效应的新物理机制。

本文提出由MIM波导和填充磁光材料的圆盘微腔构成的片上光隔离器。仿真证实硬币悖论SOI有效增强横向磁光效应。当磁光参数εxy≥0.04时,正向和反向谐振谷完全分离,获得最大隔离比>60 dB、插入损耗~2 dB的高性能隔离器。得益于硬币悖论SOI特性,增强效应在较小n下更强,横向磁光效应在宽波长范围保持强劲;更小微腔具有更大横向磁光效应,可有效克服小微腔导致的谐振谷展宽。该结构在片上高集成磁光器件、光隔离器、磁光开关、磁传感器等具有巨大应用潜力。

方法

器件结构示意图见图1:圆盘半径R=540 nm,MIM波导宽度d=50 nm,波导-微腔间隙g=16.6 nm。金属为银,介电常数采用Drude模型(ε∞=3.7, ωp=9.1 eV, γ=0.018 eV)。入射光设为横磁(TM)平面波激发SPP。微腔和波导填充磁光材料(Bi:YIG),施加横向静磁场。磁光材料介电张量对角元ε0=4.84,非对角元εxy取0–0.3。器件可经金属辅助化学刻蚀和电子束光刻制备。采用COMSOL Multiphysics有限元法仿真,二维模型计算透射率,隔离比(IR)和插入损耗(IL)由正反向透射谱得出。

结果与讨论

圆盘微腔支持硬币悖论SOI:如TM(0,n)模式,SPP横向自旋与轨道旋转同向,绕微腔一圈电场矢量旋转n+1圈,额外一圈源于圆周轨道。SOI在较小n更显著,仿真证实其有效增强横向磁光效应。透射谱显示,εxy=0时正反向谱重合;εxy=0.3时出现四个显著透射谷(TM0,3, TM0,4, TM1,1, TM0,5),重点研究前三者。以TM0,4为例,无磁场时透射谷在1550.2 nm;施加磁场后正向红移、反向蓝移,谐振谷分离随εxy增大而增加。εxy≥0.05时IL稳定在~2 dB,正反向谐振谷完全分离。最大IR>60 dB,对应IL~2 dB。IR取决于透射谷深度,可通过调节间隙g微调。

不同方位模式数n下,波长分裂Δλ随n减小而增大。Δλ/λ比率随εxy变化曲线显示TM0,3最大,与文献[26]理论相反(理论预测波长增大应削弱横向磁光效应)。硬币悖论SOI在较小n增强更强,可抵消甚至超过波长增加导致的削弱,使异常大的横向磁光效应在宽波长范围保持。更小微腔(R=421 nm)在同一波长(~1550 nm)下波长分裂更大,再次验证SOI增强效应。虽然减小微腔半径会增加谱线半高全宽(FWHM),但增大的分裂量(εxy=0.1时增1.130 nm, εxy=0.3时增2.850 nm)远超FWHM增加量(0.897 nm),有效补偿展宽,有利于更高集成度。

结论

设计基于硬币悖论SOI的片上集成光隔离器,有效增强横向磁光效应,且增强随方位模式数减小而增强。获得最大隔离比>60 dB、插入损耗~2 dB的高性能器件。横向磁光效应在宽波长范围保持强劲,更小微腔具有更大效应并能克服谐振谷展宽。该结构对片上高集成磁光器件具有巨大应用潜力。

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