利用纳米级网状接触和倾斜AlGaN纳米锥增强深紫外倒装芯片LED光提取效率
摘要
本研究探讨采用倒装芯片架构和多种网状p型接触几何结构制备的AlGaN基深紫外(DUV)发光二极管(LED)。通过三维有限差分时域(3D-FDTD)模拟,我们证明横电(TE)和横磁(TM)光提取效率(LEE)对网状结构的间距和倾斜度高度敏感。研究发现,较大填充因子并不提升LEE,因为p-GaN吸收、铝等离子体吸收和网状散射的竞争性损耗。值得注意的是,具有30°倾角的混合p-GaN纳米棒/p-AlGaN截断纳米锥接触,在280 nm发射波长下,分别将TE和TM偏振LEE提升约5倍和24倍。
引言
AlGaN基DUV LED在水净化、光疗、传感和光催化等领域需求日增。然而实现高外量子效率(EQE)仍具挑战,尤其是短波长下。EQE等于内量子效率(IQE)乘以光提取效率(LEE)。传统倒装芯片DUV LED的EQE通常<10%,主要因LEE限制在7-9%。275 nm处20%的世界纪录EQE得益于图案化蓝宝石、透明p电极和优化封装等先进LEE技术。因此提升LEE是高效DUV LED的关键。
LEE受全反射(TIR)和菲涅耳损失限制,源于AlGaN(n≈2.6)与空气的高折射率对比。量子阱中增加Al含量也倾向于TM偏振发射,这类光子难以逸出器件。增强LEE策略包括表面粗糙化、图案化蓝宝石、倾斜侧壁和等离子体共振,均引入散射中心重定向光子。另一关键限制是p-GaN接触层吸收,因空穴导电性差难以用Al丰富的p-AlGaN替代。为减轻此损耗,提出了网状p型接触、分布式布拉格反射器或光子晶体。网状接触成本效益高,在微米尺度显示潜力;但纳米级网状及其散射影响鲜有深入研究。
本文系统探索纳米级网状接触设计和Al反射器,评估其对DUV LED LEE的影响。我们比较p-GaN纳米棒、混合p-GaN/p-AlGaN纳米棒和混合p-GaN/p-AlGaN截断纳米锥。3D-FDTD分析显示,混合截断纳米锥结构可使TE光提升逾5倍,TM光提升24倍。
模型与仿真方法
仿真使用Lumerical FDTD Solutions求解时域麦克斯韦方程。基准倒装芯片模型(图1a)含92%反射率的Al顶层,将光子重定向至蓝宝石衬底。100 nm p-GaN、1.5 µm n-AlGaN和1 µm蓝宝石堆叠包含100 nm多量子阱(MQWs)。位于MQW中心的单偶极子源,沿X(TE)或Y(TM)偏振,激发280 nm发射。280 nm处吸收系数:AlGaN 10 cm⁻¹,MQWs 1000 cm⁻¹,GaN 170,000 cm⁻¹。折射率:AlGaN 2.6,GaN 2.9,蓝宝石 1.8。仿真域横向8 µm × 8 µm,顶底为完美匹配层(PML)。最小单元5 nm的非均匀网格确保精准场分辨。置于蓝宝石上方300 nm的功率监测捕获透射功率,傅里叶变换至远场。LEE计算为透射功率与总偶极子发射功率之比。
a 传统倒装芯片DUV LED的3D-FDTD模型侧视图。 b 有无100 nm p-GaN层的LED,TE和TM LEE随p-AlGaN厚度变化。
结果与讨论
光学腔厚度对LEE的影响
MQWs与Al反射器间距离由p-AlGaN厚度控制,形成调制LEE的光学腔。图1b显示LEE呈~50 nm周期振荡,符合理论λ/2n≈53 nm。TE和TM峰值相位相反,符合菲涅耳和Mueller矩阵分析预测。100 nm p-GaN层削弱腔效应,但最小TE/TM LEE仍高于无p-GaN器件。因此消除或减薄p-GaN层可使LEE翻倍以上。
网状p-GaN接触对LEE的影响
为减少p-GaN吸收,我们用嵌入Al反射器的250 nm直径、100 nm高纳米棒方阵替代连续层(图2a)。最优p-AlGaN厚度为125 nm。纳米棒间距至关重要:间距减小利于电流扩展但增加p-GaN填充因子,加剧吸收。图2c显TE LEE随间距增大至125 nm时上升,获>3倍提升,随后因散射主导而下降。零GaN吸收和完美电导体(PEC)反射器模型佐证此趋势:LEE随间距先增后减,确认散射作用。
a 网状p-GaN接触倒装芯片DUV LED示意图。 b 纳米棒阵列俯视图。 c TE和TM LEE随纳米棒间距变化(p-AlGaN=125 nm)。
我们进一步考察纳米棒高度影响。高度从100 nm降至25 nm因吸收减少而提升LEE,但<25 nm时收益饱和,因Al反射器主导散射行为(图4)。
(a) 10、25、50、100 nm高度纳米棒的LEE随间距变化。插图:正入射反射率随p-GaN厚度变化。 b 各高度反射率随间距变化。
混合p-GaN/p-AlGaN网状接触对LEE的影响
引入p-AlGaN纳米棒与p-GaN纳米棒共存(图5a)进一步增强散射且不损反射率。各p-AlGaN高度(0、25、75、100 nm)的LEE均超纯p-GaN结构,75 nm情况TE LEE最高(图5b)。远场模式证实含p-AlGaN纳米棒器件电场强度更强(图5c,d)。
a 混合p-GaN/p-AlGaN纳米棒网状接触侧视图。 b 不同p-AlGaN高度下TE LEE随间距变化(插图:反射率)。 c 125 nm间距、75 nm p-AlGaN时远场。 d 125 nm间距、0 nm p-AlGaN时远场。 e 相同高度下TM LEE随间距变化。
混合p-GaN/p-AlGaN截断纳米锥对LEE的影响
为解决持续偏低的TM LEE,我们用具有倾角α的截断纳米锥替代p-AlGaN纳米棒(图6a)。减小α同时提升TE和TM LEE。α=30°时,TE LEE在间距=375 nm峰值达26%,TM LEE在间距=260 nm升至12%,相对基准分别实现5倍和24倍增益。这表明倾斜纳米锥显著改善TM散射。
a 混合p-GaN纳米棒/p-AlGaN截断纳米锥网状接触侧视图。 b α=30°、50°、75°、90°时TE LEE随间距变化。 c 相同角度下TM LEE随间距变化。
结论
综合仿真研究证实,纳米级网状接触——p-GaN纳米棒、混合p-GaN/p-AlGaN纳米棒、混合p-GaN/p-AlGaN截断纳米锥——大幅提升深紫外LED的LEE。关键权衡在于p-GaN层吸收和Al等离子体损耗与散射收益之间。30°倾角的混合截断纳米锥改善最显著,在保持TE LEE增益的同时,实现TM LEE 24倍增强。
缩写
- 3D FDTD:
- 三维有限差分时域法
- DBR:
- 分布式布拉格反射器
- DUV LEDs:
- 深紫外发光二极管
- EQE:
- 外量子效率
- IQE:
- 内量子效率
- LEE:
- 光提取效率
- MQWs:
- 多量子阱
- ODR:
- 全向反射器
- PEC:
- 完美电导体
- PML:
- 完美匹配层
- TE:
- 横电
- TIR:
- 全反射
- TM:
- 横磁
纳米材料
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